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不同基体材质对于磁阻法测厚仪检测结果的影响
发布时间:2018-06-25   点击次数:100次
   磁阻法测厚仪采用磁感应原理进行测量,当探头与覆盖层接触时,探头和磁性基体结构构成一闭合磁回路,由于非磁性覆盖侧的存在,使磁路磁阻增加,磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量,经电脑进行分析处理,由液晶显示器直接显示出测量值。
  在检测涂层厚度时,实际上已经假设了探头的磁阻以及基体的磁阻为已知量,然后求出涂层厚度与振荡电路的频率的函数关系,保存在单片机中。检测时就按照以求得的函数关系计算出涂层厚度。
  但是,在日常磁阻法测厚仪校准标定过程中发现,有很多磁阻法涂层测厚仪在不同的基体上检测,其准确度有很大的差别。在使用厂家制定的基体上测量时,结果相对准确;而换用其他铁磁材料的基体时,即使按照厂家的校准步骤进行校准,测量结果并不准确。由式(5)可知,厚度和频率的函数关系并非线性关系。而很多厂家的校准方法为单点校准或者是两点校准,这种校准方法常用于校正已知常量不变的情况下,校正函数的系数。而在已知常量变化的情况下,很难正确校正函数系数。
  而已知常量的变化主要就是基体材质的不同。目前,常见的铁磁材料包括铸铁、硅钢、镍锌铁氧体、镍铁合金、锰锌铁氧体、坡莫合金等。
  很明显,不同的铁磁材料作为基体所测得的涂层厚度必然会有所不同。如果在检测时,使用了一个设计测量为铸铁基体的磁阻法涂层测厚仪,而检测时用镍铁合金材质为基体,那么检测结果很有可能会偏离真实值。

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