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磁阻法测厚仪校验方式的详细解说
发布时间:2017-12-22   点击次数:292次
   磁阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量仪器,可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度。例如:铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用,使本仪器具有操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。

磁阻法测厚仪

  用户购买后的磁阻法测厚仪在进行实际使用前,都必须要进行仪器的校正,这是保证仪器达到标称精度的重要保证,请务必重视。仪器有多种校正方法,使用很灵活,用户可根据实际需要选择如下一种方式:
  1、上下限校正法
  在大多数情况下,用户使用本仪器测试的对象有一定的共性,如材料和形状相同,涂层厚度也局限在某个范围内,此时用户关心的也许是被测对象的涂层是否超差。如果这些条件成立,那么就没有必要使用上面多步骤的传统校正法,而只需要运用上下限校正便能很好地完成使命。
  本方法只需要两个步骤校正两点,当然,这两点zui好直接选用用户被测件涂层允许范围中的zui小和zui大厚度。这样校正的结果,仪器在这两个校正点上的精度非常高,甚至比上面传统的校正还要好。要实现这一点,用户首先要设法获得符合这两个校正点厚度的试片,可以向本公司提出购买特殊试片的要求,也可以自行寻找符合条件的样品。不必过于苛求试片或样品的厚度值与理想的校正点完全相符。有了这两个厚度片或实际样品后,校正便可按如下步骤进行: 步骤一、先校正两者中较小的那个厚度值。在仪器开机后的状态下,按一下“校正CAL”键,用“︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值,使其和两点中较小的那个厚度值一致。然后,在裸基体上平放对应厚度的试片,探头再压上进行测试。如果是样品,那么直接测试该样品。可以重复几次测试,待仪器显示的测试值稳定后,按一下“校正 CAL”键,该点的校正便完成,仪器进入下一点校正。
  步骤二接上一步骤,用“︿”、“﹀”键调整仪器显示的厚度值,使其和两点中较大的那个厚度值一致。按步骤一同样的方法,用另一块对应的试片或样品进行测试,待仪器显示的测量值稳定后,按两次“校正CAL”键(后一次按键使仪器退出校正过程),上下限的校正便完成了。 如果以后还要做同样的上下限校正,借助仪器已经记住的两个校正点厚度值,能进一步让用户省去上面两个步骤中调整厚度的那部分操作,使用将更加便捷。
  2)全范围高准确度的传统校正法
  用户通过随机配备的三个不同厚度的试片和裸基体完成校正,具体步骤如下: 步骤一、在仪器处于开机后的状态时,按一下“校正CAL”键,仪器屏上会出现“CAL”,同时会显示一个数值,该数值如果不为“ 0”,按“﹀”键,直到该数值由大到小变到“”为止。然后将探头放在裸基体的测试面上进行测试(注意,这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状完全相同。不要使用随机配备的标准金属基块,那只能用来验证仪器本身工作是否正常,不能用来校正仪器)。可以测试几下,待仪器上显示的数值基本稳定后,按一下 “校正CAL”键,仪器的零点便校正完毕,它会显示一个新的数值。 步骤二
  接上一步骤,用*个试片来校正。看一下仪器上显示的数值和随机配备zui薄的试片的实际厚度是否一致,该片所标注的实际厚度在20μm左右。用“︿”或“﹀”键,使仪器上显示的数值和该试片的实际厚度值一致。然后将该试片平放在裸基体上,探头再压在上面进行测试,可以重复几次。待仪器显示的测量值稳定后,按一下“校正 CAL”键,*个试片的校正结束,仪器又显示下一个校正片的厚度值。
  步骤三、用步骤二相同的方法,只是所用试片要换成厚度 200μm左右的那一片。
  步骤四、依然和步骤二相同,但所用的试片要换成1200μm左右的那一片。到这个步骤的zui后阶段,按一下“校正CAL”键,仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值,如 “1999”,不用再做下去了,再按一下“校正CAL”键,校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实际测量了。
  在以后使用时,如果有必要,可以再次做上面四个步骤的校正。仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度值,这样就可以根据仪器提示,不用再修正试片厚度值,便能轻松完成各个步骤。
  3)单点校正法
  有时候,受条件限制,譬如被测体是个凹面,无法使用很难弯曲的厚试片进行校正;或者用户接触到的涂层厚度局限在一个相对较小的范围内。此时,只能或只需要用一个校正点。这个校正点可以是裸基体(零点),也可以是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件涂层厚度在某个较小范围内,如100μm左右,那么这个校正点选100μm是zui合适的。校正点定好以后就可以开始校正了,只有如下一个步骤:
  在仪器开机后的状态下,按一下“校正CAL”键,用 “︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值,使其为“”或与样品的厚度值一致。然后,将探头直接放在裸基体上进行测试。如果是样品,那么直接测试该样品。可以重复测几次,待仪器显示的测试值稳定后,按两下“校正CAL”键(后一次按键使仪器退出校正过程),单点校正便完成了。
  同样,如果以后还要做同样的单点校正,借助仪器已经记住的校正点厚度值,能进一步让用户省去上面步骤中调整厚度的那部分操作,使用将更加便捷。 相对于上面的几种方法,本校正法的操作zui简单。但代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。用户可以不妨试用一下本校正法,以便判断它能否满足实际的测试要求。
  4)任意多个校正点校正法
  如果用户接触到的被测物件形状比较特殊,而且涂层厚度的范围也比较大,同时精度又有更高的要求,那么用户可以自行挑选多个校正点(zui多10个)进行校正,仪器允许的校正点厚度为0 ~ 1999μm。有一点请注意,在实际进行校正的过程中,多个厚度执行顺序必须由小到大依次进行。具体的操作步骤和上面的传统校正法类似,此处就不再重复了。

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